卓上型蛍光X線分析装置
卓上型蛍光X線分析装置
Testing Equipment
特長：
- プラスチック材料及び電子部品の材料に潜む有害金属を測定します。
- CCDカメラで観察します。
- 形状・厚さ・材質の補正を行います。
- 測定下限が低くても測定できます。（19ppm ,Pb ,0.9ppm）
- SEA1000AⅡのコリメータを1mm強化し、Cd/Pb/Crの感度を大幅に向上させます。
| 設備名 | 卓上型蛍光X線分析装置 |
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測定元素
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Al（13）～ U（92） |
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試料形状
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固体、液体、粉体 |
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X線照射サイズ
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1 mm, 5 mm（自動切換え） |
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X線検出器
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Si半導体検出器（液体窒素不要） |
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フィルタ
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4種類（自動切換え） |
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X線管
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小型空冷式X線管球（Rhターゲット） |
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膜厚測定
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金（Au）、銀（Ag）、パラジウム（Pd）、スズ（Sn）、クロム（Cr）、ニッケル（Ni）、亜鉛（Zn）、銅（Cu） |
